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  • Contact | JTAG Technologies
    Let us know how we can help you Our knowledgeable and professional sales and support teams are ready to help you maximize your results from boundary scan Contact us or one of our distributors today Europe and ROW Boschdijk 50 5612 AN Eindhoven The Netherlands P 31 0 40 295 0870 F 31 0 40 246 8471 E info jtag com Germany T 49 0 971 6991064 F 49 0 971 6991192 E germany jtag com United Kingdom Ireland Home Farm Business Centre Cardington MK44 3SN Bedford United Kingdom P 44 0 1234 831212 F 44 0 1234 831616 E sales jtag co uk USA Canada and Mexico Eastern office 111 N West St Suite A Easton Maryland 21601 P 877 FOR JTAG 410 770 4415 F 410 770 4774 E info jtag com Western office 28852 Walnut Grove Mission Viejo CA 92692 P 949 454 9040 F 949 454 9664 E info jtag com China Malaysia Singapore Taiwan Thailand South Korea Baoan Tower 1205 800 Dong Fang Road PuDong New District 200122 Shanghai China P 86 021 5831 1577 F 86 021 5831 2167 E IEEE1149 JTAG com sg Finland Vanhanurmijärventie 62 01760 Vantaa Finland P 358 0 9

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  • Search results | JTAG Technologies
    Read our FAQs Read our application notes Find software updates Software maintenance contract Get in touch Customer Service Center Video s Webinars Login Password Create new account Request new password Search results Select any filter and click on Apply to see results Use JTAG products for Test Engineering Hardware Engineering Embedded Software Engineering Production Rework Repair Solutions for Test Engineers Designers hardware Developers software Production Managers Field Service Engineers JTAG

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  • boundary scan
    sich unter dem Namen Joint Test Action Group JTAG versammelten Dieses Komitee bestand aus Testexperten von Philips BT GEC TI und anderen Unternehmen die eine alternative Teststrategie zum ICT In Circuit Test suchten da sich die Test Anforderungen durch die neuen SMT Designs geändert hatten Die Verwendung von SMT Bausteinen hatte zur Folge dass nicht mehr alle Bausteinpins über Testnadeln zugänglich waren und somit das bis dahin weit verbreitete Bed of Nail Testverfahren an seine Grenzen stieß Seit der offiziellen Einführung von Boundary Scan in den 1990er Jahren hat das Verfahren zum Test von bestückten Leiterplatten aus folgenden Gründen an Beliebtheit gewonnen Boundary Scan bietet eine kostengünstige Testmethode im Vergleich zum ICT oder Funktionstest Es ermöglicht einfachen Zugriff auf Fine Pitch Komponenten wie BGA oder TSOP Packages Reduzierung der Nadeln im In Circuit Test Lösen von Zugriffsproblemen auch im späten Status der Leiterplattenfertigung z B bei unerreichbaren Netzen aufgrund von Blind Vias und Durchkontaktierungen Sekundärfunktion des JTAG Anschlusses zur Programmierung von CPLDs FPGAs Flash Memories und SPROM im System boundary scan boundary scan boundary scan Wählen Sie ein Thema Lösungen für Testingenieure Designer Hardware Entwickler Software Fertigungsleiter Außendienstmitarbeiter OR In welchem Markt sind Sie tätig Automobilindustrie Luftfahrt Datenverarbeitung Unterhaltungselektronik Auftragsfertigung

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  • JTAG Boundary-Scan auf Basis des IEEE-Standards | JTAG Technologies
    definiert das erstmals 1990 vorgestellte JTAG Boundary Scan und wurde seither zweimal aktualisiert Der Standard definiert Testlogik welche in die integrierten Schaltungen implementiert wird Durch die Testlogik wird ein struktureller Test sowie eine In System Programmierung auf Baugruppenebene ermöglicht Seit der Einführung der IEEE 1149 1 Spezifikation wurden vier weitere Standards veröffentlicht die jeweils auf dot1 basieren und diesen Standard für bestimmte Anforderungen erweitern IEEE 1149 4 analoges Boundary Scan aus dem Jahr 2000 und IEEE 1149 6 2003 häufig auch als ac EXTEST bezeichnet erweitern die Testmöglichkeiten von Boundary Scan über den ursprünglichen digitalen Bereich hinaus Der dritte Standard IEEE 1532 definiert ein einheitliches Beschreibungsformat für programmierbare Bauteile wie PLDs und FPGAs so dass sich diese mittels Boundary Scan komfortabler konfigurieren lassen Die aktuellste Erweiterung trägt die Bezeichnung IEEE 1149 7 Es handelt sich um einen übergeordneten Standard zu 1149 1 der mit diesem vollständig kompatibel ist und einerseits die Anzahl benötigten Pins verringert und andererseits die Funktionen zwischen 1149 1 Testsystemen und dem Prüfling erweitern soll Des Weiteren gibt es aktuell noch eine Reihe weiterer Aktivitäten zur Überarbeitung Erweiterung von JTAG Boundary Scan Hierzu zählen IEEE P1149 1 2011 ein übergeordneter Standard und eine Aktualisierung von 1149 1 IEEE P1149 8 auch als A toggle bezeichnet IEEE 1581 auch SCITT eine Testerweiterung für Speicherbausteine IEEE P1687 auch iJTAG genannt ermöglicht den Zugriff und die Steuerung von Embedded Instruments für Test und Measurement auf Bauteilebene und SJTAG zum Test auf Systemebene JTAG Technologies begleitet diese Standards von Beginn an und wird Ihnen entsprechende Lösungen zur Verfügung stellen Weitere Informationen finden Sie auf der offiziellen IEEE Website oder auf den folgenden Seiten IEEE 1149 1 IEEE 1149 4 IEEE 1149 6 IEEE 1149 7 IEEE 1532 IEEE 1581 Kommende Standards Wählen Sie ein Thema Lösungen für Testingenieure Designer Hardware Entwickler

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  • Über Boundary-Scan | JTAG Technologies
    bei denen die Boundary Scan Technologie implementiert wird gehören CPLDs FPGAs Mikroprozessoren DSPs ASICs Buslogik Telekom Encoder SERDES PHYs und Bridges PCI PCIe Zahlreiche Bausteinhersteller wie z B Intel Analog Devices ARM Freescale NXP PLX ST TI Renesas Xilinx Altera Lattice Broadcom Actel um nur einige zu nennen greifen auf die Boundary Scan Technolgies zurück und haben diese im Baustein implementiert In der Praxis Boundary Scan fähige Bausteine haben vier optional fünf zusätzliche Pins den sogenannten Test Acess Port TAP Signalen TCK Test Clock TMS Test Mode Select TDI Test Data In TDO Test Data Out TRST Test Logic Reset optional Um die Infrastruktur auf der Leiterplatte einfach zu prüfen werden die Bausteine in der Regel in Reihe geschalten d h der TDO Pin des ersten Bausteins wird mit dem TDI des nächsten verbunden Diese serielle Verknüpfung der Bausteine wird auch als Scankette bezeichnet Zur Aktivierung der Boundary Scan Logik muss TCK getaktet und TMS wie in der TAP Status Maschine beschrieben gepulst werden Nachdem der Bounary Scan Mode aktiviert wurde wird die eigentliche Core Funktion isoliert und ermöglicht die Steuerung der einzlenen Pins des Bausteins Weitere Informationen Laden Sie sich unsere Infobroschüre Wann macht Boundary Scan Sinn herunter English

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  • Anwendung von Boundary-Scan in Ihrem Unternehmen | JTAG Technologies
    bieten einheitliche Test und Programmiermethoden für den gesamten Produktlebenszyklus Auf diese Weise unterstützen wir Unternehmen dabei in jeder Phase des Produktlebenszyklus Zeit und Geld zu sparen Kunden die sich für unsere branchenführende Lösungen entschieden haben erhalten maximale Testabdeckung leistungsfähige systeminterne Programmierung ISP optimal Unterstützung mehrerer Scan Ketten ein umfassendes Angebot an Boundary Scan Controllern für autonomen Betrieb genaue Fehleranalyse und Diagnose sowie fortlaufende Produktverbesserungen In unserem White Paper oder auf den folgenden Seiten erfahren Sie mehr darüber wie Boundary Scan in Ihrem Unternehmen in jeder Phase des Produktlebenszyklus von Nutzen sein kann Hardwareentwicklung Embedded Softwareentwicklung Testentwicklung Produktion Nachbearbeitung und Reparatur Weitere Informationen Wählen Sie ein Thema Lösungen für Testingenieure Designer Hardware Entwickler Software Fertigungsleiter Außendienstmitarbeiter OR In welchem Markt sind Sie tätig Automobilindustrie Luftfahrt Datenverarbeitung Unterhaltungselektronik Auftragsfertigung EMS CEM Gesundheitswesen Industrielle Automatisierung Militär Tele und Datenkommunikation Tests und Messungen OR Wofür möchten Sie JTAG einsetzen Testentwicklung Hardwareentwicklung Embedded Softwareentwicklung Produktion Nachbearbeitung und Reparatur Webinar Erfahren Sie mehr über den Nutzen von Boundary Scan in unserer Videopräsentation Video anzeigen JTAG Vorteil während des gesamten Lebenszykluses Erfahren Sie was JTAG Boundary Scan für Sie tun kann White Paper herunterladen GEB Enterprise verwendet Boundary Scan für dynamische Highspeed Tests JTAG Technologies Tools ermöglichen

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  • Software | JTAG Technologies
    Jahren fortlaufenden weiter entwickelt Das im Jahr 1991 eingeführte Classic Produkt bildete den Anfang unserer Softwareentwicklung und beinhaltete den ersten automatischen Boundary Scan Testprogrammgenerator ATPG für PCB Verbindungen sowie ein Modul zur Testprogrammausführung und Diagnose Im Jahre 2006 stellte JTAG Technologies das neue Flaggschiff vor unser JTAG ProVision Softwarepaket ProVision bietet eine moderne Benutzeroberfläche des 21 Jahrhunderts und somit eine gemeinsame Plattform für unsere Boundary Scan Module welche alle aktuellen Anforderungen im Bereich Boundary Scan Test Bausteinprogrammierung und Debug erfüllen Die Modulare und offene Architektur von ProVision ermöglicht es neue Module welche direkt mit der zentralen Datenbank verknüpft sind zu entwickeln und bereit zu stellen Test Programme und Sequenzen welche mit ProVision erstellt wurden sind Aufwärtskompatibel mit unseren Classic Modulen und diversen Produktionspaketen Zur Unterstützung der ProVision und Classic Entwickler Tools bietet JTAG Technologies für die Produktion eine Reihe von Integrationspaketen PIPs die in der Regel im Produktionsumfeld installiert werden Die Symphony Reihe ermöglicht es JTAG Technologies Boundary Scan Anwendungen auf externen ATE Systeme auszuführen Softwareprodukte Entwicklung und Ausführung von Testanwendungen JTAG ProVision CoreCommander Entwurfsanzeige und Analyse JTAG Visualizer Produktionslösungen siehe auch ATE Integration JTAG ProVision Plattform Production Stand Alone Produktions Integrations Pakete BSD Testdiagnose National Instruments Unterstützung Baugruppenprogrammierung im

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  • Hardware | JTAG Technologies
    interessanten funktionalen und wirtschaftlichen Einstieg in das Thema Boundary Scan bietet unser JT3705 USB Controller Je nach Aufgabenstellung bieten wir Ihnen auch spezielle Lösungen für Produktion und Entwicklung Ein Beispiel ist unser Rack Mountable Instrument RMI Ein autonomer voll funktionsfähiger Boundary Scan Controller incl 256 I Os der sich perfekt für die Installation in einem 19 Funktionsrack oder als Standalonesystem am Arbeitsplatz eignet Ein weiteres sehr interessantes Produkt ist unser BSDL Verifier Dieses Tools ist ein Muss für jeden Anwender beim Entwurf von Boundary Scan fähigen ICs bzw zur Qualifizierung Verschiede Digital I O Scan DIOS Module und Socket Test Module STM bieten einen erweiterten Boundary Scan Zugriff an Steckern oder Testpunkten um die Testabdeckung zu erhöhen Des Weiteren haben wir die Möglichkeit des Remotezugriffs mit Hilfe des TapCommunicator Dieser kommt dann zum Einsatz wenn ein Zugriff aus pyhsikalischen Gründen Entfernung Umwelteinflüsse usw nicht möglich ist Durch die Umsetzung verschiedenster Kommunikationsprotokolle auf dem Prüfling z B Ethernet Bluetooth SpaceWire etc können Boundary Scan Test und Programmieranwendungen auf nahezu jede Entfernung angewand werden Hardwareprodukte Boundary Scan Controller JT 37x7 JT 3705 USB JT 37x7 RMI PODs JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 2149 DAF JT 2137 POD JT 2147 DAK

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