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  • JT 2149/DAF | JTAG Technologies
    la série de contrôleurs JT 37x7 DataBlaster Relié à une carte via un connecteur de bord ou des broches d interface de test le module complète les tests boundary scan numériques habituels en permettant de réaliser une série de mesures analogiques et de fréquence 16 canaux à double fonction E S et fréquence Mesure de tension analogique sur 12 canaux Canal programmable comme générateur d horloge Intéressé Télécharger la fiche produit Demander conseil Demander un devis Demander un essai gratuit Product tabs Avantages Avantages Module compact de mesure des signaux mixtes Installé sur et alimenté par le DataBlaster QuadPod Permet les mesures directes de tension et de fréquence sur un DataBlaster Simplifie l ingénierie des systèmes de test Applications Applications Idéal pour les systèmes de test qui ont besoin de mesures élémentaires dans le cadre d un test fonctionnel par exemple tensions d alimentation fréquences d horloge etc S intègre facilement dans les systèmes de test fonctionnel sur établi ou montés en rack Coût inférieur aux instruments traditionnels Les mesures sont prises en compte par les interfaces graphiques interactives du module ProVision et ou la bibliothèque de commande JFT Python Specifications Specifications Tension en courant continu 12 canaux plage 0 32 V précision 0 5 de la valeur affichée 8 mV impédance d entrée 1 mΩ Fréquence 16 canaux plage 0 128 MHz E S numériques 16 canaux partagés avec la mesure de fréquence variables de 1 0 à 3 6 V Générateur 1 canal plage 0 64 MHz Produits associés Produits associés JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 37x7 JT 37x7 RMI JTAG ProVision Production Integration Packages SCIL modules Produits matériels Contrôleurs boundary scan JT 37x7 JT 3705 USB JT 37x7 RMI PODs JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 2137 POD JT 2149 DAF JT 2147 DAK

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/fr/content/jt-2149daf (2016-04-25)
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  • JT 2149/DAF | JTAG Technologies
    Moduls mit dem Prüfling egal ob über Stecker oder Adapternadeln kann nicht nur die Boundary Scan Testabdeckung durch die zusätlichen digitalten I Os erhöht werden sondern weitere analoge bzw Frequenzmessungen durchgeführt werden 16 I O und Frequenzkanäle Analoge Spannungsmessungen auf 12 Kanälen Programmierbarer Taktegenerator Interessiert Beratung anfordern Angebot anfordern Kostenlose Testversion anfordern Product tabs Vorteile Vorteile Kompaktes Multifunktions Messmodul Auf Basis unseres DataBlaster QuadPods Ermöglicht direkte Messungen von analogen Spannungen und Frequnzen über unseren DataBlaster Vereinfachte Testsystementwicklung Applikationen Applikationen Ideal für Testsysteme die grundlegende funktionelle Messungen erfordern z B PSU Spannung Taktfrequenzen etc Einfache Integration in Tisch oder Racksysteme Geringere Kosten als bei herkömmlichen Instrumenten Messungen werden durch eine interaktive Befehlsbibliotek in ProVision Plug In GUIs bzw durch JFT Python ermöglicht Spezifikationen Spezifikationen Spannung DC 12 Kanäle Bereich 0 32 V Genauigkeit 2 5 Frequenz 16 Kanäle Bereich 0 128 MHz Digital I O 16 Kanäle gemeinsam mit Frequenz variabel 1 0 3 6 Volt Generator 1 Kanal Bereich 0 64 MHz Zugehörige Produkte Zugehörige Produkte JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 37x7 JT 37x7 RMI JTAG ProVision Produktions Integrations Pakete SCIL Module Hardwareprodukte Boundary Scan Controller JT 37x7 JT 3705 USB JT 37x7 RMI PODs JT 2147 QuadPOD

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  • JT 2147 QuadPOD | JTAG Technologies
    Transceiver eingesteckt Durch einfaches Abdocken kann der TAP Pod mit dem mitgelieferten Kabel um einen Meter verlängert werden um längere Distanzen zwischen Controller und Prüfling zu überbrücken Der JT 2148 Transceiver steht in Standard 10 oder Industrievariante 13 zur Verfügung Die 13 Variante umfasst einen SCSI Kabel Splitter Der Splitter setzt die SCSI Kable entsprechend um So können Flachbandkabel verwendet werden welche die Integration in Adapter in einigen Fällen erleichtern kann Signalaufbereitung für DataBlaster Controller Unterstützt TCK Signale bis 40 MHz Abnehmbare TAP Pods mit Benutzerdefinierten I O Pins Interessiert Datenblatt herunterladen Beratung anfordern Angebot anfordern Kostenlose Testversion anfordern Product tabs Vorteile Vorteile Optimale Signalführung bis zum Prüfling UUT Unterstützt Standard JT 2149 TAP Pod s oder SCIL Module Verfügbar in Standard Desktop 10 oder industriellen 13 Format Inklusive praktischem Pod Verlängerungskabeln Abwärtskompatibel zu Controllern der JT 3710 Reihe Applikationen Applikationen Jeder POD bietet aktive Leitungsterminierung und ermöglicht so die Integrität kritischer Signale am Testpunkt Neben den TAP Signalen bietet der POD vier programmierbare statische I O Pins die zur Vorbereitung und Überwachung von Test und Programmieraktivitäten verwendet werden können Die I O Spannungsniveaus der PODs können unabhängig angepasst werden Bei jedem POD können die TDI und TDO Signalspannungen separat eingestellt werden um die Anpassung an verschiedene Chip Technologien zu ermöglichen Spezifikationen Spezifikationen Vier Boundary Scan Anschlüsse Erweiterte Signalintegrität für hohen Datendurchsatz Abnehmbare PODs Programmierbare I O Spannungen Mehr Bilder Mehr Bilder Zugehörige Produkte Zugehörige Produkte JT 2135 TAP Extender JT 2139 TAP Isolator JT 37x7 SCIL Module Hardwareprodukte Boundary Scan Controller JT 37x7 JT 3705 USB JT 37x7 RMI PODs JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 2149 DAF JT 2137 POD JT 2147 DAK für MAC Panel DIOS und STM Module JT 2111 MPV DIOS Modul JT 2122 MPV DIOS Modul JT 2124 F168 DIOS Modul JT 2128

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/de/content/jt-2147-quadpod (2016-04-25)
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  • JT 2149/MPV | JTAG Technologies
    eingebunden werden sobald weitere parallele Zugriffspunkte erforderlich sind Bietet I O Kanäle für bessere Fehlerabdeckung Einfache Montage am QuadPod Steckplatz Verbesserung der Fehleraussage Interessiert Datenblatt herunterladen Beratung anfordern Angebot anfordern Kostenlose Testversion anfordern Product tabs Vorteile Vorteile IEEE Std 1149 x TAP Pod und DIOS Funktion in einem Modul Verfügbar in Standardgröße oder Erweiterter E Version mit zusätzlichem 0 1 TAP Anschlüssen Verbesserte Fehlererkennung von Stuck at Fehlern und offenen Lötstellen bei vielen Designs TCK Frequenz von 40 MHz Unterstützt weiterhin 4 unabhängie TAP Ketten Applikationen Applikationen Erhöhen der Fehlerabdeckung durch besseren I O Testzugriff Ideal für Applikaitonen mit geringem externem Zugriff Kann mit einer alternativen SCIL Funktion Kundenspezifisch neu programmiert werden Spezifikationen Spezifikationen Lässt sich in den JT 2148 QuadPOD Transceiver Steckplatz einstecken Mit Stream Through TAP POD Betrieb Mit vier statischen I O Pins und 32 synchronisierten DIOS Kanälen Mehrere Spannungen einstellbar Kanalzugriff Bypass in zwei Blöcken zu je 16 Kanälen SCIL Scan Configurable Interface Logic Technologie für erweiterten Funktionstests Zugehörige Produkte Zugehörige Produkte JT 2147 QuadPOD SCIL Module SCIP Mikroprozessoren DSPs Hardwareprodukte Boundary Scan Controller JT 37x7 JT 3705 USB JT 37x7 RMI PODs JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 2149 DAF JT 2137 POD JT

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/de/content/jt-2149mpv (2016-04-25)
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  • JT 37x7 | JTAG Technologies
    bis zu vier Boundary Scan Ketten Schnelle Bausteinprogrammierung Interessiert Datenblatt herunterladen Beratung anfordern Angebot anfordern Kostenlose Testversion anfordern Product tabs Vorteile Vorteile Modulare Architektur zur einfachen Anpassung an unterschiedlichste Anforderungen Programmierbare bzw automatische TCK Anpassung für optimale Performance der Ketten Datenrate von bis zu 40 MHz Enhanced Throughput Technology ETT und Gang Modus paralleler Test für Produktion mit hohen Stückzahlen Unabhängige Steuerung von vier TAPs je DataBlaster Controller über JT 2147 QuadPOD Modul Bestandteil der DataBlaster Serie Applikationen Applikationen Modulare DataBlaster Architektur bietet drei Ausbaustufen für entsprechende Anforderungen JT 3707 Basisebene für Leiterplattentest CPLD Programmierung und Flash Programmierung kleiner Datenblöcke JT 3717 Leiterplattentest CPLD Programmierung und Programmierung mittelgroßer Flash Speicher in der Fertigung und Debug JT 3727 Alle Anwendungen einschließlich Leiterplattentest und Insystem Programmierung großer Flash Speicher und CPLDs in der Fertigung und Debug Spezifikationen Spezifikationen Modulare Erweiterbar 40 MHz TCK Programmierbare TAP Spannungen für jeden der vier 1149 x TAPs 1 0 V bis 3 6 V Kompatibel mit JT 2149 MPV 0xx SCIL Modulen Form factors Form factors JT 37x7 TSI Flexibler Boundary Scan Controller mit den Anschlussmöglichkeiten USB 2 0 Ethernet und Firewire JT 37x7 PXI Plug In Controller zu PXI 1 und PXI Express Hybrid Steckplatz JT 37x7 PXIe Plug In Controller zu PXI Express Peripheral Steckplatz JT 37x7 PCI PC Plug In Controller zu PCI Bus Steckplatz JT 37x7 PCIe PC Plug In Controller für den Steckplatz des PCI Express Bus Mehr Bilder Mehr Bilder Zugehörige Produkte Zugehörige Produkte JT 2111 MPV DIOS Modul JT 2137 POD JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JTAG ProVision JTAG ProVision Flash PLD JTAG ProVision Platform National Instruments Support Production Stand Alone Produktions Integrations Pakete SCIP Mikroprozessoren DSPs Hardwareprodukte Boundary Scan Controller JT 37x7 JT 3705 USB JT 37x7 RMI PODs JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 2149

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/de/content/jt-37x7 (2016-04-25)
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  • JT 37x7/RMI | JTAG Technologies
    2149 MPV 0xx SCIL Module ersetzt werden um individuelle Funktionen bereitzustellen siehe SCIL Module Mit einem speziellen JT 2149 Anschluss können Sie TAP Pods und SCIL Module mit dem JT 37x7 RMI 19 Rackmount Controller verbinden All in One JTAG Tester für Boundary Scan Test und Programmierung mit synchronisierten DIOS Kanälen Vier JTAG TAPs plus 256 I O Kanäle Schneller und einfache Integration durch 1HE und19 inkl Montagewinkel Interessiert Datenblatt herunterladen Beratung anfordern Angebot anfordern Kostenlose Testversion anfordern Product tabs Vorteile Vorteile Kompaktes 19 Gehäuse mit 1HE beinhaltet Boundary Scan Controller sowie 256 digitale I O Kanäle Vereinfacht das Kombinieren von Boundary Scan mit Funktionstests Ideal zur Montage im19 Rack sowie als Stand Alone System zur Ausführung der Applikationen Plattformneutral kompatibel mit LXI PCI PXI und VXI basierten Testsystemen Eigenständiges System das keine weiteren Peripheriegeräte benötigt sowie schnelle und einfache integrierbar ist Applikationen Applikationen Der JT 37x7 RMI ist optimal sobald Boundary Scan mit anderen typischerweise funktionalen Geräten in einem Testsystem montiert werden Die Kombination aus Boundary Scan TAPs DIOS Digital I O Scan Kanälen zur Ausführung von Boundary Scan Applikationen sowie die Vielzahl der unterstützen Bausteine zur Insystem Programmierung ergeben eine leistungsfähige Erweiterung für den Funktionstest Der JT 37x7 RMI wird von einer breiten Palette von JTAG Integrationspaketen unterstützt welche eine optimale Integration in die Softwarepakete von National Instruments LabView TestStand LabWindows NET etc ermöglichen Spezifikationen Spezifikationen Instrument für Rack Einbau Abmasse 1 HE x 19 Dreifache serielle Schnittstelle USB Firewire Ethernet Volle 40 MHz TCK DataBlaster Frequenz 4 TAPs und 256 I Os auf der Vorderseite 440 mm 19 breit x350 mmtief x 1HE hoch Gewicht 2 420 g Zugehörige Produkte Zugehörige Produkte JTAG ProVision JTAG ProVision Flash PLD JTAG ProVision Platform National Instruments Support Production Stand Alone Produktions Integrations Pakete SCIP Mikroprozessoren DSPs Hardwareprodukte Boundary Scan Controller

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/de/content/jt-37x7rmi (2016-04-25)
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  • JTAG ProVision | JTAG Technologies
    lassen Sie uns dies bitte wissen damit wir diesen in unserer Modellbibliothek ergänzen können Unterstützte Bausteinhersteller 0 C C G G M M P P S S Z 3DPlus Cosmo Golledge Macroblock Pletronics STEC Abilis Crystek Greenliant Macronix PLX Summit Abracon CSR GSI Marvell PMC Sierra Supertex Aeroflex CTS HALO Maxim PnpNetwork SynQor Agilent Cypress Hamlin Maxwell Potato Taitien AKM Dallas Hitachi MCC Power One TE Connectivity Allegro Davicom Hittite Measurement Specialties Premier Teledyne Alliance DDC HMP Micrel Profichip Telefunken Alpha Omega DDD Holt Micro Crystal ProTek Temex Altera Delta Honeywell Microchip PTC Teridian AMCC Device Engineering Inc Hynix Micron Pulse THine AMD Diodes I C Microsemi Qimonda TI AMIC E C O IC Milandr Rakon Torex AMIS E2V ICmic Mindspeed Ramtron Toshiba AMS Ecliptek ICS Mini Circuits Realtek Traco Analog ECS ID MOS Mitsubishi Recom Trinamic Analogic Elmos IDT Molex Renesas TriQuint Anpec Elpida IMI MPS Richtek TrueLight Apacer EM Infineon msystems Ricoh Tyco Aptina Emerson Inova MtronPTI Rohm u blox Asix EMLSI Inrevium Murata Rood Ubicom Atheros EnergyMicro Intel Music RSG Vectron ATI Enpirion Intersil Nanya Samsung Vicor Atmel Eon InvenSense National Sandisk Vishay Austin Epson IQD NEC Sanyo Vitesse Avago Erg IR Neosid Seiko VLSI Batron Ericsson ISSI NetPower Semtech VPT Beckhoff ESMT ITE NexFlash Sensirion VTI Bel Everspin Jauch NHi Sharp White BH Electronics Exar KDS NI Siemens Winbond BI Excel Kionix NJRC SiI WIZnet Bosch Explore Lantiq NKK Switches SiLabs Wolfson Bourns Fairchild Lantronix Nordic Silicon7 Würth Broadcom Finisar Lapis Numonyx SiliconMotion XFMRS CAMD Firecomms Lattice NVE Simtek Xicor Catalyst Firecron Legend NXP Sipex Xilinx CERN FMI Lesswire Oki SiTime XP Chiplus Fordahl Lineage Omron Skyworks Zarlink Chrontel Fortasa Lite On ON SmarDTV Zetex Cincon Fox Littelfuse OSRAM SMSC Zettler Cirrus Freescale Logic Devices Panasonic Solid State Optronics Zilog Clare FTDI LS Research Peregrine Sony ZMD CML Fujitsu LSI Pericom Spansion Coilcraft Gaia LSI CSI PhaseLink SST Conner Winfield Genesys LTC Philips ST Cortina Gennum M A COM Phoenix Contact ST Ericsson Funktionen Funktionen ATPG für Infrastruktur Verbindungen dot 6 Verbindungen Logik Clusters Logikbausteine Speicher Flash Bausteine serielle SPROMs NAND Flash etc Unterstützt Multi Board Systeme mit mehrfachem Netzlisten Import Integrierter TAP Verbindungseditor unterstützt IEEE 1149 1 Gateways und Bridge Bausteine Integrierter Editor für Board to Board Verbindungen per drag and drop Wiederverwendbares Modellmapping und eigener Modell Editor Script basierende Sprache zum Test von komplexen Cluster und Mixed Signal Architekturen Python basierte Integrierter Fault Coverarage report für optimale Analyse Integrierter Sequenzer AEX Manager zur Bereitstellung von Testsequenzen und entsprechendem Report Modelle Modelle ProVision wird aktuell mit mehr als 8 000 Modellen für Nicht Boundary Scanfähige Bausteine ausgeliefert Bausteine Bausteine JTAG Provision unterstützt derzeit Bausteiner aller Hersteller in der nachfolgenden Übersicht Wird einer Ihrer Bausteine nicht unterstützt nehmen Sie bitte Kontakt zu uns auf damit wir unsere Modellbibliothek aktualisieren können Unterstützte Bausteinhersteller 0 C C G G M M P P S S Z 3DPlus Cosmo Golledge Macroblock Pletronics STEC Abilis Crystek Greenliant Macronix PLX Summit Abracon CSR GSI Marvell PMC Sierra Supertex Aeroflex CTS HALO

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/de/content/jtag-provision (2016-04-25)
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  • Produktions Integrations Pakete | JTAG Technologies
    PIP NET und für ältere VB Compilers existiert PIP VB Auch die Möglichkeit DOS Win Befehle über Command Line aufzurufen besteht und wird von PIP EXE bereitgestellt Jedes PIP Paket umfasst die volle Funktionalität zum Laden und Ausführen von Test und Programmierapplikationen über unseren DataBlaster oder Explorer Familie JTAG IEEE Std 1149 1 Boundary Scan Controller Verwenden Sie PIPs zur Ausführung der vorgestellten JTAG Sequenzen unter der von Ihnen benötigten Sprache Unterstützung für Testausführung in 3rd Part Softwarepaketen LabView TestStand ATEasy etc Unterstützt die meisten high level Programmiersprachen VB C NET Interessiert Datenblatt herunterladen Beratung anfordern Angebot anfordern Kostenlose Testversion anfordern Product tabs Vorteile Vorteile Nahtlose Integration von Boundary Scan Anwendungen in eigene Testanwendungen Unterstützung für mehrere Programmiersprachen Weitere Integrationsoptionen auf Anfrage Optimales Zusammenspiel zwischen Boundary Scan und dem vorhandenen Testsystemen Applikationen Applikationen Optimale Integration in bestehende Funktionstestumgebungen zur Ausführung der erstellten kundenspezifischen Applikationen Aufbau von eigenen Low Cost Testsystemen die auf Ihr Anforderungen Spezifikationen angepasst sind Funktionen Funktionen Unterstützt die komplette JTAG Controller und DIOS Hardwareserie Multiple Controller Funktion wird von der Data Blasterunterstützt d h zusammenschalten mehrer Controller zur Erhöhug der Bandbreite möglich Auslieferung gedruckter Dokumentation incl Beispiele Zugehörige Produkte Zugehörige Produkte JTAG ProVision JTAG Visualizer National Instruments

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/de/content/production-integration-packages (2016-04-25)
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