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  • JT 2149/DAF | JTAG Technologies
    Moduls mit dem Prüfling egal ob über Stecker oder Adapternadeln kann nicht nur die Boundary Scan Testabdeckung durch die zusätlichen digitalten I Os erhöht werden sondern weitere analoge bzw Frequenzmessungen durchgeführt werden 16 I O und Frequenzkanäle Analoge Spannungsmessungen auf 12 Kanälen Programmierbarer Taktegenerator Interessiert Beratung anfordern Angebot anfordern Kostenlose Testversion anfordern Product tabs Vorteile Vorteile Kompaktes Multifunktions Messmodul Auf Basis unseres DataBlaster QuadPods Ermöglicht direkte Messungen von analogen Spannungen und Frequnzen über unseren DataBlaster Vereinfachte Testsystementwicklung Applikationen Applikationen Ideal für Testsysteme die grundlegende funktionelle Messungen erfordern z B PSU Spannung Taktfrequenzen etc Einfache Integration in Tisch oder Racksysteme Geringere Kosten als bei herkömmlichen Instrumenten Messungen werden durch eine interaktive Befehlsbibliotek in ProVision Plug In GUIs bzw durch JFT Python ermöglicht Spezifikationen Spezifikationen Spannung DC 12 Kanäle Bereich 0 32 V Genauigkeit 2 5 Frequenz 16 Kanäle Bereich 0 128 MHz Digital I O 16 Kanäle gemeinsam mit Frequenz variabel 1 0 3 6 Volt Generator 1 Kanal Bereich 0 64 MHz Zugehörige Produkte Zugehörige Produkte JT 2147 QuadPOD JT 2149 MPV JT 37x7 JT 37x7 RMI JTAG ProVision Produktions Integrations Pakete SCIL Module Hardwareprodukte Boundary Scan Controller JT 37x7 JT 3705 USB JT 37x7 RMI PODs JT 2147 QuadPOD

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  • Events | JTAG Technologies
    Expo Cambourne Cambridge UK 27 April 2016 bis 28 April 2016 Exhibition and conference for electronics hardware test engineers Website Hardware Expo Weiterlesen Space Tech Expo US Pasadena CA USA 24 Mai 2016 bis 26 Mai 2016 Space Tech Expo Conference is the West Coast s premier B2B space event for spacecraft satellite launch vehicle and space related technologies Website Space Tech Expo Weiterlesen Einsatz JTAG Produkte in den Bereichen

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  • Benutzerkonto | JTAG Technologies
    Benin Bermuda Bhutan Bolivia Plurinational State of Bonaire Sint Eustatius and Saba Bosnia and Herzegovina Botswana Bouvet Island Brazil British Indian Ocean Territory Brunei Darussalam Bulgaria Burkina Faso Burundi Cambodia Cameroon Canada Cape Verde Cayman Islands Central African Republic Chad Chile China Christmas Island Cocos Keeling Islands Colombia Comoros Congo Congo The Democratic Republic of the Cook Islands Costa Rica Côte d Ivoire Croatia Cuba Curaçao Cyprus Czech Republic Denmark Djibouti Dominica Dominican Republic Ecuador Egypt El Salvador Equatorial Guinea Eritrea Estonia Ethiopia Falkland Islands Malvinas Faroe Islands Fiji Finland France French Guiana French Polynesia French Southern Territories Gabon Gambia Georgia Germany Ghana Gibraltar Greece Greenland Grenada Guadeloupe Guam Guatemala Guernsey Guinea Guinea Bissau Guyana Haiti Heard Island and McDonald Islands Holy See Vatican City State Honduras Hong Kong Hungary Iceland India Indonesia Iran Islamic Republic of Iraq Ireland Isle of Man Israel Italy Jamaica Japan Jersey Jordan Kazakhstan Kenya Kiribati Korea Democratic People s Republic of Korea Republic of Kuwait Kyrgyzstan Lao People s Democratic Republic Latvia Lebanon Lesotho Liberia Libya Liechtenstein Lithuania Luxembourg Macao Macedonia The Former Yugoslav Republic of Madagascar Malawi Malaysia Maldives Mali Malta Marshall Islands Martinique Mauritania Mauritius Mayotte Mexico Micronesia Federated States of Moldova Republic of Monaco Mongolia Montenegro Montserrat Morocco Mozambique Myanmar Namibia Nauru Nepal Netherlands New Caledonia New Zealand Nicaragua Niger Nigeria Niue Norfolk Island Northern Mariana Islands Norway Oman Pakistan Palau Palestinian Territory Occupied Panama Papua New Guinea Paraguay Peru Philippines Pitcairn Poland Portugal Puerto Rico Qatar Réunion Romania Russian Federation Rwanda Saint Barthélemy Saint Helena Ascension and Tristan da Cunha Saint Kitts and Nevis Saint Lucia Saint Martin French part Saint Pierre and Miquelon Saint Vincent and the Grenadines Samoa San Marino São Tomé and Príncipe Saudi Arabia Senegal Serbia Seychelles Sierra Leone Singapore Sint Maarten Dutch part Slovakia Slovenia

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  • Benutzerkonto | JTAG Technologies
    Login Häufig gestellte Fragen Unsere Knowledge Base Software Updates Softwarewartungs vertrag Customer Service Center Video s Webinars Kontakt Anmelden Passwort Registrieren Neues Passwort anfordern Benutzerkonto Haupt Reiter Registrieren Anmelden Neues Passwort anfordern aktiver Reiter E mail address Einsatz JTAG Produkte in den Bereichen Testentwicklung Hardware Entwicklung Embedded Software Entwicklung Produktion Nachbearbeitung und Reparatur Lösungen für Testingenieure Designer Hardware Entwickler Software Fertigungsleiter Außendienstmitarbeiter JTAG für Ihre Branche JTAG CEM list JTAG

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  • 2016 IPC/Apex
    Customer Service Center Video s Webinars Kontakt Anmelden Passwort Registrieren Neues Passwort anfordern Back to news 2016 IPC Apex 24 März 2016 Sanjay Gangal interviews Peter van den Eijnden Managing Director of JTAG Technologies at 2016 IPC APEX Expo To watch the interview please click here Type Press Einsatz JTAG Produkte in den Bereichen Testentwicklung Hardware Entwicklung Embedded Software Entwicklung Produktion Nachbearbeitung und Reparatur Lösungen für Testingenieure Designer Hardware Entwickler

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  • Boundary-Scan bei Funktionstestern stark im Kommen | JTAG Technologies
    höher integrierter Bauteile und ausgefeilter SMD Technik kommt Funktionstests von Bauteilen immer mehr Bedeutung zu Waren vor 15 Jahren In Circuit Tester noch unangefochtene Nummer Eins am westeuropäischen ATE Markt dominieren heute Kombinationen aus Funktions Struktur und Boundary Scan Tests Jtag Technologies bietet Boundary Scan Systeme für die Integration in Testsysteme unterschiedlicher Hersteller und ermöglicht den Aufbau günstiger Mini ATE Systeme ebenso wie hochflexibler ATE Systeme für viele unterschiedliche Tests

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  • Design for Manufacturing (DfM) | JTAG Technologies
    Support Login Häufig gestellte Fragen Unsere Knowledge Base Software Updates Softwarewartungs vertrag Customer Service Center Video s Webinars Kontakt Anmelden Passwort Registrieren Neues Passwort anfordern Back to news Design for Manufacturing DfM 21 Januar 2016 Type Press Einsatz JTAG Produkte in den Bereichen Testentwicklung Hardware Entwicklung Embedded Software Entwicklung Produktion Nachbearbeitung und Reparatur Lösungen für Testingenieure Designer Hardware Entwickler Software Fertigungsleiter Außendienstmitarbeiter JTAG für Ihre Branche JTAG CEM list JTAG

    Original URL path: http://www.jtag.co.uk/de/content/design-manufacturing-dfm (2016-04-25)
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  • News | JTAG Technologies
    of 20 1 3 from 60 2016 IPC Apex 24 März 2016 Sanjay Gangal interviews Peter van den Eijnden Managing Director of JTAG Technologies at 2016 IPC APEX Expo Weiterlesen Boundary Scan bei Funktionstestern stark im Kommen 04 Februar 2016 In Zeiten zunehmend höher integrierter Bauteile und ausgefeilter SMD Technik kommt Funktionstests von Bauteilen immer mehr Bedeutung zu Weiterlesen Design for Manufacturing DfM 21 Januar 2016 Weiterlesen Article categories News

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